描述:HemiView葉面圖像分析系統(tǒng)通過(guò)處理影像數(shù)據(jù)文件來(lái)獲取與冠層結(jié)構(gòu)有關(guān)的,例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況。通過(guò)分析輻射數(shù)據(jù)的相關(guān)信息,能夠測(cè)算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。其軟件可以計(jì)算輻射指標(biāo)、冠層指標(biāo)、測(cè)量地點(diǎn)的光線覆蓋狀況及直射與漫射光的分布等。
品牌 | DELTA-T | 價(jià)格區(qū)間 | 1萬(wàn)-5萬(wàn) |
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
HemiView葉面圖像分析系統(tǒng)功能和組成
葉面積測(cè)量,自動(dòng)辨別葉片損傷或病變面積,種子和根尖記數(shù),圖形轉(zhuǎn)換、儲(chǔ)存和編輯。
使用照相分析,樣品圖像通過(guò)CCD 攝像機(jī)成像,然后由圖像截獲卡送到計(jì)算機(jī)中,圖像分析軟件對(duì)樣品圖像進(jìn)行分析處理。
組成:
圖像截獲卡:PCI 接口,用來(lái)俘獲影像數(shù)據(jù)供計(jì)算機(jī)處理;
CCD 攝像機(jī):對(duì)樣品進(jìn)行攝影成像;
圖像分析軟件:對(duì)樣品的圖像進(jìn)行分析處理,P133 以上,英文WIN3.1、WIN95,98 系統(tǒng);
HemiView植物圖像分析系統(tǒng)特點(diǎn):
·交互式圖示定位工具:精準(zhǔn)記錄的圖像半球縱坐標(biāo)系統(tǒng)。補(bǔ)償磁場(chǎng)偏差;
·支持圖像分類(lèi):強(qiáng)度區(qū)分界限和干擾像素。圖像按照實(shí)時(shí)更新分類(lèi);
·圖像可多重和拆分查看:分類(lèi)和色彩/灰色等比率查看,或?qū)⒄鶊D像拆分開(kāi)瀏覽;
·圖像底片:圖像可轉(zhuǎn)換為底片模式進(jìn)行查看和分析;
·可給不同的天空區(qū)域定義號(hào)碼:天頂角和方位角定義范圍;
·單個(gè)樹(shù)的葉面積:直接可通過(guò)HemiView輸出單個(gè)樹(shù)的LAI;
·分析局部圖像:可以將圖像中不需要參與分析的部分排除;
·地點(diǎn),鏡頭和太陽(yáng)模型的參數(shù):用戶可設(shè)定地點(diǎn),鏡頭和太陽(yáng)模式應(yīng)用到任何一個(gè)圖像中,方便從列表中選擇;
·定義鏡頭的特點(diǎn):鏡頭方程是當(dāng)用戶使用了當(dāng)前鏡頭和老款類(lèi)型提供的ΔT;
·輸出:分析結(jié)果可輸出為Excel兼容表格格式或文本格式;
·自定義輸出參數(shù):用戶可根據(jù)不同的圖像定義不同的輸出參數(shù)。
HemiView葉面圖像分析系統(tǒng)技術(shù)指標(biāo)
1、可測(cè)量物體的最大尺寸:平板掃描:400×370 mm;傳送掃描:250×290 mm;
2、彩色CCD 攝像頭,681×582 pixels;
3、測(cè)量面積精度:≤4%;
4、圖象采集卡取樣頻率:實(shí)時(shí)取樣,1/ 25 秒(50Hz);
5、圖象分析軟件分辨率:512×512 pixels,24 bit;
6、傳送裝置速率:60/100/140/190 mm/s;
7、傳送裝置樣品最大寬度為250mm,最大厚度為5mm;
8、帶有使卷曲葉片平展的聚丙烯片;
9、攝像機(jī)鏡頭支架高度:1150 mm;